出願番号 : 特許出願2005-201411 出願日 : 2005年7月11日
公開番号 : 特許公開2007-17373 公開日 : 2007年1月25日
出願人 : キヤノン株式会社 発明者 : 川口 正浩
発明の名称 : 遺伝子検査用キット
【課題】 本発明の目的は、遺伝子検査における検査結果に影響を及ぼす汚染源としての微生物等を生体の検体採取部位から除去することで検査結果の精度を向上させるために効果的な有検体採取部位の洗浄剤及びそれを含む遺伝子検査用キットを提供することにある。
【解決手段】 遺伝子検査での検査結果に影響を及ぼす汚染源としての微生物やそれに由来するDNAを洗浄除去できる洗浄剤を使用して遺伝子検査用の検体の採取部位を洗浄する。
公開番号 : 特許公開2007-17373 公開日 : 2007年1月25日
出願人 : キヤノン株式会社 発明者 : 川口 正浩
発明の名称 : 遺伝子検査用キット
【課題】 本発明の目的は、遺伝子検査における検査結果に影響を及ぼす汚染源としての微生物等を生体の検体採取部位から除去することで検査結果の精度を向上させるために効果的な有検体採取部位の洗浄剤及びそれを含む遺伝子検査用キットを提供することにある。
【解決手段】 遺伝子検査での検査結果に影響を及ぼす汚染源としての微生物やそれに由来するDNAを洗浄除去できる洗浄剤を使用して遺伝子検査用の検体の採取部位を洗浄する。