出願番号 特願2015-549178
出願日 平成26年11月19日(2014.11.19)
国際出願番号 JP2014080683
国際公開番号 WO2015076311
国際出願日 平成26年11月19日(2014.11.19)
国際公開日 平成27年5月28日(2015.5.28)
優先権データ
特願2013-242197 (2013.11.22) JP
発明者：高木 睦・徳永 直親
出願人：国立大学法人北海道大学
発明の概要 被験細胞に対してレーザー光を照射して、顕微鏡視野内の細胞の全ピクセルについて測定した一直線上のレーザー光の位相差をX-Y座標平面上にプロットした各点で形成される形状の違いを指標として被験細胞が正常細胞かガン化細胞を判定するか、あるいは正常細胞とガン化細胞のX-Y座標平面上のそれぞれの判定基準値を事前に設定し、被験細胞で測定したX-Y座標平面上の位相差値と判定基準値との差異を指標として被験細胞が正常細胞かガン化細胞を判定する。 J-Store >>国内特許コードP170013973
