植物の凍結・低温ストレス耐性レベルの簡易評価方法および装置

出願番号 : 特許出願２００４－１８７５２８ 出願日 : ２００４年６月２５日
公開番号 : 特許公開２００６－１０４７６ 公開日 : ２００６年１月１２日
出願人 : 株式会社日立製作所 発明者 : 吉羽 洋周 外１名

発明の名称 : 植物の凍結・低温ストレス耐性レベルの簡易評価方法および装置

【課題】植物の低温・凍結耐性レベルを簡便で、短時間に、評価する植物を枯らすことなく評価できるものとすること。
【解決手段】評価する植物体は幼植物から成体植物まで、その植物種に適した栽培条件で育成した個体の組織の一部、例えば葉（葉が小さく数多く付くものは葉一枚を、また大きな葉を付けるものは葉の一部を切り取って使用）を切り取って、これを水中で凍結させ、その後室温に戻し、葉から溶出されたアミノ酸をニンヒドリンと反応させ分光器により５７０ｎｍの吸光度を測定しその含量を測定する。