光産業技術動向ブログ OITT

OITTとは、Optoelectronic Industry and Technology Trendの略称です。

太陽電池の劣化試験期間を3分の1に短縮、長期信頼性確保に貢献

2015年09月30日 | 新現象・新技術

 太陽光発電設備の耐用年数は17年とされているが、太陽電池モジュールそのものの期待寿命としては20~30年といわれている。基本的には太陽電池モジュールは長期間使用し続けることができるが、発電能力は徐々に低下していくため、どの程度で買い替えが必要になるかは、メーカーや製品の状況に左右される。その長期使用における劣化試験を容易にするのが、今回のテュフ ラインランド ジャパンと日立製作所が共同開発した「高加速温度サイクル試験サービス」である。


 この高加速温度サイクル試験は、国際規格(IEC 61215など)の試験条件をより厳しくすることで劣化の進行を加速し、太陽電池モジュールの長期信頼性を従来の規格試験よりも半分から3分の1の試験期間で評価するもの。今回研究した加速条件をあてはめることにより、実環境使用7~10年程度に相当するモジュールの長期信頼性を、約1カ月の試験期間(試験前後の出力評価なども含めると8週間)で評価できる(テュフ ラインランド ジャパン試算)。これにより、従来と比較すると、2~3カ月要した試験期間を約1カ月に短縮することが可能だ。


詳しい情報はこちら。
太陽光:太陽電池の劣化試験期間を3分の1に短縮、長期信頼性確保に貢献 - スマートジャパン


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