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和英特許翻訳メモ

便利そうな表現、疑問、謎、その他メモ書き。思いつきで書いてます。
拾った用例は必ずしも典型例、模範例ではありません。

ショートする、ショートである

2021-04-21 12:40:05 | 英語特許散策

US9859755
[0106] Shorting out the tuning capacitor affects the tuning of the resonant inductive circuit,
【0091】
  同調キャパシタがショートする、共振誘導性回路の同調に影響が及び、

which may affect the efficiency of power transfer between the inductive elements in the transmitter and receiver devices 902 and 903 
送信機デバイス902および受信機デバイス903における誘導性要素間の電力伝達の効率性に影響が及ぶことがある。

US8466842
The copper foil 32 may be covered by, for example, plastic tape so that
銅箔32を、例えば、プラスチック・テープで覆い、

it is isolated from contact with the frame 30 and shorts out the radio frequency signals when they pass through the flange 38 and the sealing member 35 .
銅箔32を金属枠30と接触しないように隔離し、無線周波数信号がフランジ38、及びシール部材35を通過するときに、ショートするようにすることができる。

The cable ground 46 is connected to the frame 30 near the inner metal edge 11 of the window flange 38 .
ケーブル接地46は、窓フランジ38の内側金属縁部11付近の枠30に接続される。

US10180486
[0069] Short test structure 160 may extend within surface plane 104 of the test standard substrate
【0049】
  ショート試験構造体160は、試験規格基板の表面104内に延在し、

and may be configured to electrically interconnect, or short, the first probe and the second probe when the first probe and the second probe electrically contact the test structure.
第一のプローブ及び第二のプローブが試験構造体に電気的に接触すると、第一のプローブ及び第二のプローブと電気的に相互に接続する、又はショートするように構成されることができる。

An example of short test structure 160 includes an electrically conductive film 162 that extends within surface plane 104 .
ショート試験構造体160の例は、表面104内に延在する導電フィルム162を含む。

Electrically conductive film 162 includes and/or defines contact regions 112 of short test structure 160 .
導電フィルム162は、ショート試験構造体160の接触領域112を含む、及び/又は画定する。

US6717463
In FIG. 10, the linearization circuit 34' consists of a first series LC network L1/C1 connected between the emitter of Q1 and ground, and a second series LC network L2/C2 connected between the base of Q1 and ground.
【0034】
  図10では、線形化回路34’は、Q1のエミッタと接地との間に接続されている第1の直列のLCネットワークL1/C1と、Q1のベース接地との間に接続されている第2の直列のLCネットワークL2/C2とで構成されている。

The capacitors C1 and C2 are DC blocking capacitors
コンデンサC1およびC2はDCブロッキングコンデンサ(DC blocking capacitor)であり、

whose capacitance should be large enough to ensure a low impedance to ground at the difference frequency (f2-f1).
そのキャパシタンスは、差周波数(f-f)において低インピーダンスを確実に接地するのに十分な大きさである。

Since the inductors L1 and L2 are nearly DC shorts at f2-f1,
インダクタL1およびL2は、f-fにおいてほぼDCショートであるので、

the emitter and base of Q1 are individually kept constant at f2-f1by the capacitors C1 and C2 respectively. 
-fにおいて、Q1のエミッタはコンデンサC1によって、ベースはコンデンサC2によってそれぞれ一定に維持される。

US6840666
FIG. 6A is a diagram 600 illustrating the thermal response of an illustrative sample defect and the surrounding area.
【0020】
  図6Aは、例示の試料欠陥及びそれを取り囲む領域の熱応答を示す図600である。

The sample defect is assumed to be a short
試料欠陥はショートであるとし、

having a resistance R of about twenty-five thousand ohms, a volume V of the combined defect and associated electrodes of about 10<-12 > m<3> , and an exposed suface area A of about 10<-5 > m<2> .
このショートは約25,000オームの抵抗R、欠陥及び関連電極を合わせた約10-12の体積V、及び約10-5の露出表面積Aを有する。

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