EP2966685
[0034] Since the OTP memory cell of the present invention has two varactors, the failed memory cell may be remedied during a re-program cycle (i.e. a second program cycle).
【００３８】
本発明のＯＴＰメモリ・セルは２つのバラクタを有することから、再プログラム・サイクル（すなわち、第２のプログラム・サイクル）の間に故障メモリ・セルを救済できる。
FIG. 7A schematically illustrates associated control signals for remedying (or re-programming) a failed memory cell according to present invention.
図７Ａは、本発明に従った故障メモリ・セルを救済（または再プログラミング）するための関連コントロール信号を略図的に図解している。
FIG. 7B schematically illustrates associated control signals for reading the remedied (or re-programmed) memory cell according to present invention.
図７Ｂは、本発明に従った救済済み（または再プログラム済み）メモリ・セルを読み出す関連コントロール信号を略図的に図解している。
EP2728753
[0030] This type of redundancy scheme can help to improve manufacturing yields.
【００３２】
この種類の冗長スキームは、製造収率を向上させることを助け得る。
Integrated circuits 10 that would otherwise need to be scrapped can be salvaged and sold to customers.
そうでなければ、廃棄される必要がある集積回路１０は、救済され、消費者に売られ得る。
The repair process need not adversely affect device performance, so repaired devices may operate just as well as devices in which no defects were detected.
修復プロセスは、デバイス性能に必ずしも悪影響を与えず、従って、修復されたデバイスは、検出された欠陥のないデバイスとまさに同様に動作し得る。
There is usually a limited number of defects on a given integrated circuit 10, so it is generally not necessary to provide a large amount of redundant circuitry.
通常、所与の集積回路１０上に限られた数の欠陥が存在するので、大量の冗長回路網を提供する必要は概してない。
Because only a relatively small amount of redundant circuitry is provided,
比較的に少量の冗長回路網のみが提供されるので、
the increased die area and performance penalties associated with providing redundancy are typically outweighed by the considerable economic benefits that result from achieving enhanced manufacturing yields.
増大されるダイエリア、および冗長を提供することに関連付けられる性能ペナルティは、一般的に、増大された製造収率を達成することから生じる相当な経済利益により重要である。
US2022123210(JP)
[0207] Namely, in accordance with the present embodiment, because trouble that is due to dielectric breakdown can be suppressed, redundancy of circuits that remedy defective bits can be reduced,
【０１６７】
すなわち、本実施形態によれば、絶縁破壊による故障を抑制することができるため、不良ビットを救済する回路の冗長性を低減することが可能となり、
and a programmable logic that is higher performance and whose consumed electric power is lower can be provided.
より高性能かつ低消費電力なプログラマブルロジックを提供できる。
US11398379
Alternatively, a suitable corrective action or corrective processing might include ejection of the workpiece from the platform 900 in order to not waste further time and materials on a workpiece which cannot be saved.
或いは、適切な補正アクション又は補正処理は、救済できないワークピースに対して更なる時間及び材料を無駄にしないように、プラットフォーム９００からワークピースを排出することを含んでもよい。
US10923533(JP)
[0003] Heretofore, for the purpose of enhancing the yield of the semiconductor devices, redundant relief has been carried out.
【０００２】
従来、半導体装置の歩留まりを向上させるために冗長救済が行われている。
For example, a technology with which a redundant cell having the same configuration as that of each of basic cells within a logic area is provided for the basic cells has been proposed as such a technology (for example, refer to PTL 1).
例えば、そのような技術として、ロジック領域内の複数の基本セルに対して、それらの基本セルと同一の構成を有する冗長セルを設ける技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
[0004] In this technology, an input of a signal to the basic cell or the redundant cell is switched by an input selector.
【０００３】
この技術では、基本セルや冗長セルへの信号の入力を入力セレクタにより切り替える
In addition, which of signals outputted from the basic cells and the redundant cell is to be outputted is switched by an output selector, thereby relieving a broken-down basic cell.
とともに、基本セルや冗長セルから出力される信号のうちのどの信号を出力するかを出力セレクタにより切り替えることで、故障した基本セルが救済されている。
That is to say, one redundant cell is connected to a plurality of basic cells arranged in an array. In the case where there is a defect in any of these basic cells, the redundant cell is used instead of the basic cell having the defect.
すなわち、アレイ状に配置された複数の基本セルに対して１つの冗長セルが接続され、それらの基本セルのうちの何れかに欠陥がある場合には、その基本セルに代えて冗長セルが使用される。
