US2023167291(SOLVAY SPECIALTY POLYMERS IT [IT])
(vii) Ferroelectric Hysteresis Measurements (Pr , Pmax )
【0080】
(vi)強誘電性ヒステリシスの測定(Pr、Pmax)
The hysteresis determination was performed by submitting the annealed film to poling in a field from 80 V/microns to 250 V/microns, obtaining an hysteresis curve were the maximum polarization, and residual polarization were measured.
ヒステリシス測定は、アニーリング済みのフィルムに、80V/ミクロン~250V/ミクロンの電場でポーリング処理を施し、ヒステリシス曲線を得て、その曲線で最大分極及び残留分極を判断することにより、実施した。
The Pmax is the maximum polarization achievable with the maximum field applied, the Pr is the residual polarization (also referred to as remnant polarization) in the samples after the removal of the applied field.
Pmaxは、印加される最大電場で実現できる最大分極であり、Prは、印加電場を除去した後の試料中の残留分極(レムナント分極とも呼ばれる)である。
US11120859(MICRON TECHNOLOGY INC [US])
[0037] Hysteresis curves 300 may be understood from the perspective of a single terminal of a capacitor.
【0031】
ヒステリシス曲線300は、コンデンサの単一の端子の視点から理解され得る。
By way of example, if the ferroelectric material has a negative polarization, positive charge will accumulate at the terminal.
一例として、強誘電体材料が負の極性を有する場合、端子には正の電荷が蓄積し得る。
Likewise, if the ferroelectric material has a positive polarization, negative charge will accumulate at the terminal.
同様に、強誘電体材料が正の極性を有する場合、端子には負の電荷が蓄積し得る。
Additionally, it should be understood that the voltages in hysteresis curves 300 represent a voltage difference across the capacitor and are directional.
また、ヒステリシス曲線300の電圧は、コンデンサにかかる電圧差を表し、指向性があることを理解すべきである。
For example, a positive voltage may be applied by applying a positive voltage to the terminal in question and maintaining the second terminal at ground.
例えば、正の電圧は、当該の端子に正の電圧が印加され、第2の端子を接地に維持することによって印加される。
A negative voltage may be applied by maintaining the terminal in question at ground and applying a positive voltage to the second terminal, i.e., positive voltages may be applied to negatively polarize the terminal in question.
負の電圧は、当該の端子を接地に維持し、第2の端子に正の電圧を印加することによって印加され、すなわち、正の電圧は、当該の端子をマイナスに分極されるように印加される。
Similarly, two positive voltages, two negative voltages, or any combination of positive and negative voltages may be applied to the appropriate capacitor terminals to generate the voltage difference shown in hysteresis curves 300 .
同様に、ヒステリシス曲線300に示される電圧差を生成するために、2つの正の電圧、2つの負の電圧、又は正及び負の電圧の任意の組み合わせが適切なコンデンサ端子に印加され得る。
[0038] As depicted in hysteresis curve 300 -a , the ferroelectric material may maintain a positive or negative polarization with a zero voltage difference, resulting in two possible charged states: charge state 305 and charge state 310 .
【0032】
ヒステリシス曲線300-aに示されるように、強誘電体材料は、ゼロの電圧差で正又は負の極性を維持し得、2つの可能な電荷状態:電荷状態305及び電荷状態310をもたらす。
According to the example of FIG. 3, charge state 305 represents a logic 0 and charge state 310 represents a logic 1.
図3の一例に従うと、電荷状態305は論理0を表し、電荷状態310は論理1を表す。
In some examples, the logic values of the respective charge states may be reversed to accommodate other schemes for operating a memory cell.
幾つかの例では、個々の電荷状態の論理値は、メモリセルを動作するためのその他のスキームに適合するために逆にされてもよい。
US11469327(KEPLER COMPUTING INC [US])
[0006] In a second aspect, a semiconductor device comprises a capacitor stack comprising a polar layer comprising a base polar material doped with a dopant,
【0006】
第2の態様では、半導体デバイスは、ドーパントがドープされたベース極性材料を含む極性層を有するキャパシタ積層体を含み、
wherein the base polar material includes one or more metal elements and one or both of oxygen or nitrogen,
ベース極性材料は、1又は複数の金属元素と、酸素又は窒素の一方又は両方と、を含み、
and wherein the dopant comprises a metal element of one of 4d series, 5d series, 4f series or 5f series that is different from the one or more metal elements,
ドーパントは、1又は複数の金属元素とは異なる4d系、5d系、4f系又は5f系のうちの1つの金属元素を含み、
wherein the dopant is present at a concentration such that a remnant polarization of the polar layer is different than that of the base polar material without the dopant.
ドーパントは、極性層の残留分極が、ドーパントを含まないベース性極性材料の残留分極と異なるような濃度で存在する。
The capacitor stack further comprises first and second crystalline conductive oxide electrodes on opposing sides of the polar layer.
キャパシタ積層体は、極性層の両側に第1及び第2の結晶性導電性酸化物電極を更に含む。
The semiconductor device further comprises first and second barrier metal layers on respective ones of the first and second crystalline conductive oxide electrodes on opposing sides of the polar layer.
半導体デバイスは、極性層の両側にある第1及び第2の結晶性導電性酸化物電極のそれぞれの上に第1及び第2の障壁金属層を更に含む。