積算値

US2020020925(JP)
"[0045] The average particle diameter (D50) of the zeolite in the present exemplary embodiment is preferably in the range of 0.5 to 3 μm and more preferably in the range of 0.5 to 2 μm. Here, the particle diameter (average particle diameter) means a particle diameter (median diameter: D50) at a cumulative value of 50% in a particle size distribution (in terms of volume) by a laser diffraction scattering method."

本実施形態におけるゼオライトの平均粒径（Ｄ_５０）は０．５～３μｍの範囲にあることが好ましく、０．５～２μｍの範囲にあることがより好ましい。なお、この粒径（平均粒径）は、レーザ回折散乱法による粒度分布（体積基準）における積算値５０％での粒径（メジアン径：Ｄ_５０）を意味する。

US2020035999(JP)
"[0055] The average particle size of the LSX particles means a particle size (volume average particle size) with which an accumulated volume value is 50% in a particle size distribution measured by the laser diffraction/scattering method. As the measurement apparatus, it is possible to use, for example, an “LA-750” manufactured by HORIBA, Ltd. (HORIBA)."

ＬＳＸ粒子の平均粒径とは、レーザー回折散乱法で測定される粒度分布において、体積積算値が５０％となる粒径（体積平均粒径）を意味する。測定装置には、例えば、株式会社堀場製作所（ＨＯＲＩＢＡ）製「ＬＡ－７５０」を用いることができる。

US2019367746(JP)
"[0053] The average particle diameter of the plate-like particles of inorganic compound as described above can be measured by a known method, but in the secondary particles of the plate-like particles of inorganic compound according to the present embodiment, the average particle diameter means a particle diameter at 50% integrated value in the particle size distribution determined by a laser diffraction or scattering method."

 なお、上記のような板状無機化合物微粒子の平均粒径は、公知の方法により測定することが可能であるが、本実施形態にかかる板状無機化合物微粒子の二次粒子においては、レーザ回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値５０％での粒径を意味する。

EP3591693(JP)
"[0067] A median particle size of the plate-shaped silver microparticles being the component (C1) may be 0.3 to 15 µm. With the median particle size of the plate-shaped silver microparticles being within this range, their dispersibility in the resin component can be improved. Further, the median particle size of the plate-shaped silver microparticles is within this range, thereby making it possible to reduce nozzle clogging and a strain of a chip during the assembly of a semiconductor chip. Here, the median particle size refers to a 50% integrated value (50% particle size) in a volume-based particle size distribution curve that is obtained through measurement with a laser diffraction particle size analyzer. That is, this median particle size is different from the above-described average particle size of short sides in that the median particle size is calculated in consideration also of their long sides."

この（Ｃ１）成分のプレート型銀微粒子は、中心粒子径が０．３～１５μｍであってもよい。プレート型銀微粒子の中心粒子径が、この範囲にあることで、樹脂成分への分散性を向上できる。さらに、プレート型銀微粒子の中心粒子径が、この範囲にあることで、ノズルの詰まり、半導体素子の組立て時のチップの歪などを制御できる。ここで、中心粒子径とは、レーザー回折式粒度分布測定装置で測定して得られた体積基準の粒度分布曲線における５０％積算値（５０％粒子径）を指す。すなわち、この中心粒子径は、上記短辺における平均粒子径とは、長辺も合わせて考慮して算出している点で異なるものである。

US2020024023(JP)
"[0044] The average particle diameter of the positive electrode active material means a volume average particle diameter measured by the laser diffraction method, which means a median diameter at which the cumulative volume is 50% in the particle diameter distribution. The average particle diameter of the positive electrode active material can be measured using, for example, a laser diffraction scattering particle diameter distribution analyzer (manufactured by HORIBA, Ltd.)."

正極活物質の平均粒径とは、レーザ回折法によって測定される体積平均粒径であって、粒子径分布において体積積算値が５０％となるメジアン径を意味する。正極活物質の平均粒径は、例えば、レーザ回折散乱式粒度分布測定装置（株式会社堀場製作所製）を用いて測定できる。

EP3078034
"[0015] The average particle diameter of the microparticles or the nanoparticles defined in the present specification and claims may be a primary particle diameter or a secondary particle diameter. In the case where the fine particles are agglomerated to form secondary particles in the production of the electrical insulation layer, the average particle diameter of the fine particles is preferably the secondary particle diameter. In the case where the fine particles are not agglomerated so as to be in the form of primary particles in the production of the electronically insulating layer, the average particle diameter of the fine particles is preferably the primary particle diameter.

本明細書および特許請求の範囲で規定する、マイクロ粒子およびナノ粒子等の微粒子の平均粒子径は、一次粒子径であってもよいし、二次粒子径であってもよい。前記微粒子の平均粒子径は、前記電気絶縁層を製造する際に当該微粒子が凝集した二次粒子を形成している場合には二次粒子径であることが好ましく、前記電気絶縁層を製造する際に当該微粒子が凝集していない一次粒子である場合には一次粒子径であることが好ましい。

[0016] The average particle diameter of the microparticles is preferably 0.5µm to 40µm, more preferably 0.7µm to 30µm, and still more preferably 0.8µm to 20µm.

前記マイクロ粒子の平均粒子径は、０．５μｍ～４０μｍが好ましく、０．７μｍ～３０μｍがより好ましく、０．８μｍ～２０μｍが更に好ましい。

[0017] When the average particle diameter is 0.5µm to 40µm, it is preferable that the mechanical strength of the electronically insulating layer becomes excellent, and also, the porosity can be increased so as to reliably improve the ion conductivity.

前記平均粒子径が０．５μｍ～４０μｍであると、電気絶縁層の機械的強度が優れるとともに、空孔率を高めて容易にイオン伝導度を向上できるため、好ましい。

[0018] In the present specification and claims, "average particle diameter (average particle size)" refers to the particle diameter (particle size) of a 50% volumetric integrated value in a particle distribution of the fine particles as determined by a laser diffraction scattering method."
  
本明細書及び特許請求の範囲において、「平均粒子径（平均粒径）」とは、レーザー回折・散乱法によって求めた前記微粒子の粒度分布において、体積積算値５０％での粒子径（粒径）を意味する。