US2005148721(GEN ELECTRIC [US])
[0081] Reliability Testing.
信頼性試験
In addition to "as assembled" thermal resistance and adhesion strength measurements, the compositions of Examples 1 and 3 were used to make TIMs which were subjected to accelerated reliability testing to determine their ability to survive high stress environments.
「接合直後」の熱抵抗及び接着強さの測定に加えて、例1と例3の組成物を用いてTIMを製造し、促進信頼性試験を行って高応力環境での保持性能を測定した。
The two reliability testing methods were Air-to-Air Thermal Shock and Temperature/Humidity Exposure.
2つの信頼性試験法は冷熱衝撃試験及び温度/湿度曝露試験であった。
US2022216563(ASAHI CHEMICAL IND [JP])
—Heat Cycle Test—
【0112】
-ヒートサイクル試験-
A wiring component of each of the examples and comparative examples was allowed to stand in an environment of 23° C. and 50% RH for 7 days or longer.
各実施例及び比較例の配線部品を7日以上23℃50%RHの環境に静置した。
After being allowed to stand, a thermal shock resistance test was conducted for 500 cycles using a thermal shock tester (DC2010S dew cycle tester (manufactured by Kusumoto Chemicals, Ltd.)). In the test, each cycle included heating at 120° C. for 30 minutes, lowering the temperature to −10° C. and maintaining the temperature to −10° C. for 30 minutes, and then raising the temperature to 120° C.
静置後、冷熱衝撃試験機(結露サイクル試験機 DC2010S(楠本化成製))を用いて120℃にて30分加熱、-10℃に降温して30分冷却、さらに120℃に昇温する過程を1サイクルとする耐ヒートショック試験を500サイクル実施し、被覆部材の割れや位置ずれの有無を目視にて観察した。
The evaluation was made according to the following criteria: Good (superior) when no crack or displacement was observed, No good (inferior) when a crack and/or displacement were observed.
そして、割れおよび位置ずれの発生がない場合を○(良好)とし、割れ及び/または位置ずれが見られた場合を×(不良)として評価した。
US2022106486(DAINIPPON INK & CHEMICALS [JP])
(Measurement of Thermal Shock Properties of the Molded Body)
【0071】
(成形体の耐冷熱衝撃性の測定)
The obtained test specimen was introduced into a thermal shock test apparatus (“TSA-103EL”, manufactured by ESPEC Corp.), and subjected to thermal cycle of −40° C./30 minutes→150° C./30 minutes (1 cycle: 1 hour).
得られた試験片を、冷熱衝撃試験装置(エスペック株式会社「TSA-103EL」)内に導入して、-40℃/30分→150℃/30分のヒートサイクルを行った(1サイクル1時間)。
After each thermal cycle, the appearance of the molded body was observed, and the number of thermal cycles before a crack was formed was measured, and an average of 5 measurements was determined.
各ヒートサイクル後に成形体の外観を観察し、クラックが発生するまでのヒートサイクル回数を測定し、5回測定の平均値を求めた。
US2021347130(DAINIPPON INK & CHEMICALS [JP])
Metal-resin composites each including a metal member and a resin member which are joined together are used in a wide range of fields such as the automobile industry, the electronic device industry, etc.
金属部材と樹脂部材とが接合された金属樹脂複合体は、自動車業界、電子機器業界など幅広い分野で使用されている。
Examples of a general technique for joining together a metal member and a resin member include a technique using a fixing member such as a screw, a claw, or the like, and a technique using an adhesive,
金属部材と樹脂部材とを接合する技術としては、例えばネジや爪などの固定部材を用いる技術や、接着剤を用いる技術が一般的である
but these techniques have a problem of causing unsatisfactory joining strength or causing unsatisfactory hot-cold shock resistance.
が、これらの技術では接合強度が十分でない、あるいは耐冷熱衝撃性が不十分であるなどの問題があった。
There is also a technique for joining a metal member and a resin member together by inserting in advance the metal member into a mold with a predetermined shape and then injecting a melt of the resin member into the mold.
また、金属部材を予め所定形状の金型に挿入した後、金型内に樹脂部材の溶融物を射出して、金属部材と樹脂部材とを接合する技術もある
However, this technique has a problem that the metal member cannot be joined to the existing resin member or that joining strength is unsatisfactory.
が、既存の樹脂部材に対して金属部材を接合できない、あるいは接合強度が十分でないなどの問題があった。
US2021246284(ZEON CORP [JP])
[0005] For example, PTL 1 discloses a technique for forming a printed circuit board using a crystalline thermoplastic alicyclic structure-containing resin as a board material.
例えば、特許文献1では、基板材料として、結晶性の熱可塑性脂環式構造含有樹脂を用いて、プリント配線基板を形成する技術が開示されている。
The printed circuit board obtained in accordance with the teachings of PTL 1 is excellent in the balance between heat shock test resistance and transmission characteristics and can be used particularly suitably for transmission of high-frequency signals.
特許文献1に従って得られたプリント配線基板は、冷熱衝撃試験耐性及び伝送特性のバランスに優れており、高周波信号の伝送用に特に好適に用いることができる。
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熱衝撃試験:thermal shock test (半導体用語集、SEMI-NET)
冷熱衝撃試験/ヒートショック試験、JAPAN TESTING LABORATORIES
冷熱衝撃試験槽、Proz.com
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