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和英特許翻訳メモ

便利そうな表現、疑問、謎、その他メモ書き。思いつきで書いてます。
拾った用例は必ずしも典型例、模範例ではありません。

接触不良

2018-07-04 12:56:04 | 英語特許散策

US2013170149
"[0004] Therefore, various testing protocols (e.g. UL 1703) are used to determine the product's capability to handle these temperature variations, for example as illustrated in FIG. 10. One test of particular interest performed on the product is a Wet Insulation Resistance test (“Wet Hi-pot”), found in UL 1703, section 27. For example, the PV device should not exhibit a dielectric breakdown as a result of an applied direct current voltage (e.g. about 500 volts) while immersed in a non-corrosive liquid. Moreover, there is a desire to ensure good electrical contact at the time of installation that will minimize electrical contact failures during usage. These tests may be required to be performed before and/or after thermal cycling of the device(s). "

「それゆえ、例えば、図10に示すように、これらの温度変動を取り扱う製品の能力を測定するために種々の試験プロトコール(例えば、UL1703)を用いる。製品に対して行う特に興味深い試験の1つはUL1703、セクション27に見られる湿潤絶縁抵抗試験(湿潤ハイポット)である。例えば、PVデバイスは非腐食性液体中に浸漬した間の印加直流電圧(例えば、約500ボルト)の結果として誘電破壊を示すべきでない。さらに、設置時の良好な電気接触を確保し、それにより、使用の間の電気接触不良が最少限とすることが望ましい。これらの試験はデバイスの熱サイクルの前及び/又は後に行われる必要があるであろう。」


EP1691207
"6. A method for localizing a weak or bad contacting  joint or contact of an electric circuit, the method comprising the steps of:
providing reference functions of thermoelectric voltage versus time of different possible locations of the weak or bad contacting joint or contact of the electric circuit,
heating the electric circuit by at least one measuring electric impulse,
acquiring the thermoelectric-voltage-versus-time data of the electric circuit,
comparing the acquired thermoelectric-voltage-versus-time data to the reference functions,
localizing the weak or bad contacting joint or contact of the electric circuit in accordance with the similarities among the acquired data and reference functions."

「6. 電気回路の接触の弱い又は接触不良の接合部又は接触部の位置を突き止めるための方法であって、
前記電気回路の接触の弱い又は接触不良の接合部又は接触部の生じ得る異なる位置についての熱電電圧対時間の基準関数を規定する段階と、
前記電気回路を少なくとも1つの測定用電気インパルスによって加熱する段階と、
前記電気回路の熱電電圧対時間データを取得する段階と、
前記取得した熱電電圧対時間データを前記基準関数と比較する段階と、
前記取得したデータと前記基準関数との間の類似性に従って前記電気回路の接触の弱い又は接触不良の接合部又は接触部の位置を突き止める段階と、
を有している方法。」

US2004157476
"[0003] In certain applications, electrical connectors and the components connected thereto must operate in a harsh environment. Contact surfaces exposed to the harsh environment can experience corrosion, and the corrosion of the contact surfaces can ultimately lead to failure of the contact. One approach that has been used in such applications has been to plate the contact surfaces with heavy gold to minimize the negative effects associated with harsh environments. However, the use of heavy gold plating can be a relatively expensive solution. "

「用途によっては、電気コネクタや、電気コネクタに接続された部品は、苛酷な環境で使用される場合がある。接触面は、苛酷な環境に曝されると、腐食が起こる。接触面が腐食すると、最終的に接触不良を生じる。そのような用途では、対策の1つとして、接触面にヘビーゴールド(heavy gold)のメッキを施し、苛酷環境での悪影響を最小にすることが行われている。しかしながら、ヘビーゴールドメッキを施すと、コスト高を招く。」

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