要旨

EP2671354
"[0012] Aspects, features and advantages of the invention will be appreciated when considered with reference to the following description of exemplary embodiments and accompanying figures. The same reference numbers in different drawings may identify the same or similar elements. Furthermore, the following description is not limiting; the scope of the invention is defined by the appended claims and equivalents."

本発明の態様、特徴、及び効果は、例示的実施態様の以下の説明及び添付図面を参照して斟酌するときに明らかになるであろう。異なる図面中の同様な参照番号は、同一若しくは類似の要素を特定し得る。更にまた、以下の説明は限定的なものではなく、本発明の要旨は、添付の特許請求の範囲とその均等物によって規定される。

WO2017019861
"[0087] A number of implementations have been described. Nevertheless, various modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. In addition, the logic flows depicted in the figures do not require the particular order shown, or sequential order, to achieve desirable results. In addition, other steps may be provided, or steps may be eliminated, from the described flows, and other components may be added to, or removed from, the described systems. Accordingly, other implementations are within the scope of the following claims."

いくつかの実施形態について説明した。それにもかかわらず、本発明の要旨および範囲から逸脱することなく、様々な変更が行われてもよい。加えて、図に描かれた論理フローは、望ましい結果を達成するために、示された特定の順序、または逐次的な順序を必要としない。加えて、他のステップが設けられてもよく、またはステップが説明したフローから省略されてもよく、他の構成要素が説明したシステムに追加されてもよく、または説明したシステムから除去されてもよい。したがって、他の実装形態は、以下の特許請求の範囲内にある。

炭素同士

WO2011143587
"[0072] The aliphatic hydrocarbon chain of fatty acids of various embodiments may be unsaturated or polyunsaturated. The term "unsaturated" refers to a tatty acid having a aliphatic hydrocarbon chain that includes at least one double bond and/or substituent. In contrast, a "saturated" hydrocarbon chain does not include any double bonds or substituents.

種々の態様の脂肪酸の脂肪族炭化水素鎖は不飽和またはポリ不飽和であることができる。“不飽和”の用語は少なくとも１つの二重結合および／または置換基を包含する脂肪族炭化水素鎖を持つ脂肪酸のことを云う。これに対し、“飽和”炭化水素鎖は二重結合または置換基を何も有していない。

Thus, each carbon of the hydrocarbon chain is 'saturated' and has the maximum number of hydrogens. "Polyunsaturated," generally, refers to fatty acids having hydrocarbon chains with more than one double bond. The double bonds of the unsaturated or polyunsaturated fatty acids of various embodiments may be at any location along the aliphatic hydrocarbon chain and may be in either cis or trans configuration.

すなわち、炭化水素鎖の各炭素は“飽和されており”そして最大数の水素を有する。“ポリ不飽和”は、一般に、１つを超える二重結合を有する炭化水素鎖を持つ脂肪酸のことを云う。種々の態様の不飽和またはポリ不飽和脂肪酸の二重結合は脂肪族炭化水素鎖に沿うどの位置にあってもよく且つシスまたはトランス立体配置のいずれであってもよい。

The term "^'cis," refers to a double bond in which carbons adjacent to the double bond are n the same side and the term "trans" refers to a double bond in which carbons adjacent to the double bond are on opposite sides. Typically "cis" is the same as Z, and "trans" is the same as E but sometimes the IUPAC rules for naming compounds will give the opposite of this, which is the typical case in nitroalkenes. For example, a nitroalkene can have the two carbon groups "cis" but the two groups that take priority for the naming of compounds (a nitro group on one carbon of the alkene and a carbon group on the other carbon of the alkene) are on opposite sides and thus are E.

“シス”という用語は二重結合に隣接する炭素同士が同じ側にある二重結合のことを云い、“トランス”という用語は二重結合に隣接する炭素同士が反対側にある二重結合のことを云う。典型的には、“シス”はＺと同じであり、トランスはＥと同じであるが、たまに、化合物を命名するためのＩＵＰＡＣ規則がこれと反対となる。これはニトロアルケンの場合に典型的となる。例えば、ニトロアルケンは２つの炭素基“シス”を有するが、化合物の命名のための優先順を取る２つの基（アルケンの１つの炭素上のニトロ基とアルケンの他の炭素上の炭素基）は反対側にあり、それでＥとなる。

Therefore the nitoalkene analog of a "cis" double bond is actually an E nitroalkene. Similarly, the nitoalkene analog of a "trans" double bond is actually a Z nitroalkene. Without wishing to be bound by theory, double bonds in cis configuration along the carbon chain (cis carbon chain but E nitroalkene) may induce a bend in the hydrocarbon chain. Double bonds in ''tran " configuration along the carbon chain (trans carbon chain but Z nitroalkene) may not cause the hydrocarbon chain to bend."

それ故、“シス”二重結合のニトロアルケン類縁体は実際Ｅニトロアルケンである。同様に、“トランス”二重結合のニトロアルケン類縁体は実際Ｚニトロアルケンである。理論によって束縛されることを望まないので、炭素鎖に沿うシス配置の二重結合（シス炭素鎖とＥニトロアルケン）は炭化水素鎖に屈曲を誘導する。炭素鎖に沿う“トランス”配置の二重結合（トランス炭素鎖とＺニトロアルケン）は炭化水素鎖を屈曲させない。

主体とする

WO2016077867
"Graphene based films have been found to have excellent filtration properties which make them well suited for use in a variety of industries and applications, such as water purification, chemical synthesis, pharmaceutical purification, and many other separation processes.

グラフェンを主体とするフィルムは優れた濾過特性を有することが見出されており、この特性のため、グラフェンを主体とするフィルムは水の精製、化学合成、医薬品精製、及び他の多くの分離工程などの様々な産業及び用途での使用に非常に適している。

Graphene is a one atom thick 2D honeycomb sp2 carbon lattice, which is an exciting multifunctional material that possesses a combination of strong mechanical properties, chemical inertness, and has an extremely large surface area.

グラフェンは、１原子の厚さの２Ｄハニカムｓｐ２炭素格子であり、これは強い機械特性と化学的不活性を併せ持ち、非常に大きな表面積を有する、非常に面白い多機能性材料である。

Membranes prepared from graphene are chemically inert like ceramic membranes and can be made into films using graphene/graphene-oxide (GO) fluid phase dispersions like polymers. Graphene-based membranes also have high permeability and high selectivity for both liquids and gases."

  グラフェンから作製される膜は、セラミック膜のように化学的に不活性であり、これは、グラフェン／酸化グラフェン（ＧＯ）流体相分散液を使用してポリマーのようにフィルムに加工することができる。グラフェンを主体とする膜は、液体と気体の両方に対する高い透過性及び高い選択性も有している。

WO2009025900
"In another embodiment, the nanoparticulate filler can include metal nanoparticles or inorganic nanotubes which may contain metallic components including, but not limited to, gold, cobalt, cadmium, copper, iron, lead, zinc, and palladium, as well as silicate based nanoparticles such as silica, polyhedral oligomeric silsesquioxanes, layered silicates, and derivatives thereof."

別の実施形態では、ナノ微粒子フィラーは、金、コバルト、カドミウム、銅、鉄、鉛、亜鉛、及びパラジウムを含むがこれらに限定されない金属成分を有していてもよい金属ナノ粒子又は無機ナノチューブ、並びにシリカ、多面体オリゴマーシルセスキオキサン、層状シリケート、及びこれらの誘導体等のシリケートを主体とするナノ粒子を含むことができる。

 

薄片化

EP2780688
"As described, the controller 60 is configured to read instructions from the memory 1 92 to process the substrates in the apparatus 10 according to the protocols and treatment operations defined in the protocol database 226. For example, with reference to the flow chart depicted in Figure 1 1 , tissue samples may be obtained by sectioning a sample tissue using a microtome at step 228. The tissue samples may then be placed on slides or other substrates by an operator."

説明したように、コントローラ６０は、メモリ１９３から命令を読み出して、手順データベース２２６に定義された手順および処理動作に従って、装置１０内で基板を処理するように構成される。例えば、図１１に示したフローチャートを参照して、ステップ２２８においてミクロトームを用いてサンプル組織を薄片化することによって、組織サンプルが得られる。組織サンプルは、オペレータによってスライドまたは他の基板の上に戴置してもよい。

WO2016126554
"[0012] SiC crystals produced by methods identified have large concentrations of dislocations. As of this filing, the commonly reported values of screw dislocation and basal plane concentration are nominally 5000-10000/cm2, respectively. The dislocations are most commonly assessed by sectioning the crystal in the plane normal to the crystal axis of symmetry. Etching the exposed crystal surface with molten salt, like potassium hydroxide, at temperatures in the 350-500 C range will reveal the dislocations. Each dislocation type has a unique shape so they can be uniquely counted. The dislocations are commonly counted and reported as a number divided by the inspection area. This characterization method is useful as it allows for easy correlation of defects contained in planar semiconductor devices formed on the crystal plane. There are many examples in the literature which show that dislocations are not uniformly distributed in the plane of observation. The large count of dislocations makes it very impractical to count every single one, especially as today inspections can be required on sections greater than or equal to the equivalent of 100 mm diameter circles. So the etched area sampled to determine the amount of dislocations. Incorrect sampling methods can lead to errors in the estimation of the dislocation concentration associated with larger crystals. In most reports, the details of the sampling method are not provided, so replication of results can often be difficult, if not impossible."

すでに示した方法によって生産されたＳｉＣ結晶は、転位濃度が大きい。本出願の時点で一般的に報告されている、らせん転位濃度及び基底面濃度の値は、名目上それぞれ５，０００～１０，０００／ｃｍ^２である。転位は、最も一般的には、結晶の対称軸に対して垂直な平面で結晶を薄片化することによって評価される。露出した結晶面を水酸化カリウムのような溶融塩を用いて３５０～５００℃の範囲の温度でエッチングすることにより、転位が明らかになるであろう。それぞれの種類の転位は、特有の形状を有しているため、区別してカウントすることができる。転位は、一般的に、検査面積で除した数として、カウントされ、報告される。この特性評価方法は、結晶平面上に形成される平面状半導体デバイスに含有される欠陥の相関付けを容易にするものであり、有用である。文献には、観察平面内に転位が均一に分布しているわけではないことを示す多くの例がある。特に、今日では、直径１００ｍｍの円よりも広い、又はそれと等しい区画に対する検査が求められる場合があり、転位のカウント数が多く、全ての転位を１つずつカウントすることが、全く現実的でないものとなっている。従って、エッチングされた領域をサンプリングして、転位の量を決定する。大きな結晶と関連する転位濃度を求める際、誤ったサンプリング方法によって誤差が引き起こされる場合がある。ほとんどの報告において、サンプリング方法の詳細が提供されないため、結果の再現は、不可能でないとしても、大抵は困難である。

WO2016014332
"The use of microscopy to investigate samples requires high sample quality to ensure adequate sample imaging and analytical data, including structural information and chemical compositions, are obtained. In particular, thin samples are needed in order to obtain accurate results. In order to obtain a thin enough sample, a milling device is directed onto the sample and material is removed from the sample for thinning. A known apparatus of this type includes an ion source and equipment for imaging the sample. The sample may be mounted onto a grid that is in turn mounted on a sample holder. The sample holder is adapted for insertion into a goniometer that is capable of reorienting the sample with respect to the ion source. The sample may be milled on both the top and bottom surfaces for thinning purposes, and this milling is typically a momentum transfer process in which a primary ion beam strikes the sample surface and sputters an amount of material. Alternatively, a section may be removed from the sample by way of directing the ions onto the sample at a particular angle and a given position. The goniometer and holder permit the position of the sample to be adjusted with respect to the ion beam emanating from the ion source to cause adjustment of the degree and angle of the milling of the sample. The ion beam may also be displaced with respect to the sample, including scanning or rastering across the surface of the sample. The combination of the sample holder and goniometer also serves as a vacuum seal between the processing chamber and the ambient environment."

 

 顕微鏡による試料解析には、適切な試料画像と構造および化学組成の情報を含む解析データの取得を確保するために高品質の試料が必要とされる。特に、正確な結果を得るためには薄片化された試料が必要である。十分に薄い試料を作製するため、ミリング装置が試料上に誘導され薄片化のため試料から物質を削る。従来のこのタイプの装置は、イオン源と試料の画像処理用の装置を備えている。試料は試料ホルダー上に順に搭載されるグリッドに装着されうる。試料ホルダーは、イオン源に対して試料の方向を変更することができる角度計に挿入できるように構成されている。試料は薄片化の目的で上面と底面両方をミリング加工され、そして、このミリング加工は通常、一次イオンビームが試料表面を叩き、物質をスパッタリングさせる運動量伝達過程である。または、特定の角度と所与の位置にある試料にイオンを当てることで試料から断片を削除しうるであろう。角度計とホルダーが、イオン源から発せられるイオンビームに対して試料の位置を調整可能とし、試料のミリング加工の程度と角度が補正できる。イオンビームは、試料の表面全体をスキャンまたはラスターすることも含め、試料に対して変位されてもよい。また試料ホルダーと角度計の組み合わせは操作チャンバーと外部環境の間の真空密封の役割もする。

"

When a transmission electron microscope (TEM) is to be utilized to observe or analyze the sample, it is typically required that the sample be reduced to a thickness permitting electron transparency. In certain instances, a scanning electron microscope (SEM) may also require fine dimensional control of the dimensions of the sample. Unfortunately, if the sample was not milled to the required dimensions, the results obtained in the microscopic analysis will not be complete. The operator must then remove the sample from the microscopy device and place it back into the milling apparatus and remove additional material from the sample. This process may be time consuming and require guess work by the operator. However, once an operator obtains a sufficient amount of experience he or she may become proficient at determining exactly how much milling needs to be done on a particular material. Although with enough experience the operator may be capable of adequately preparing a sample for microscopic analysis, the possibility of making an error by incorrectly estimating material removal remains. Further, for novice operators, thinning samples for sensitive microscopic analysis presents certain challenges. Finally, it may be necessary to thin a number of samples in a repetitious manner with highly consistent results. It may be desired to improve accuracy, speed and consistent repeatability with which samples can be prepared for imaging and analysis. As such, there remains room for variation and improvement within the art."

透過型電子顕微鏡(TEM)が試料の観察や分析に使用される時、通常試料は電子透過を可能にする厚さに減らす必要がある。ある場合では、走査型電子顕微鏡(SEM)もまた試料の寸法の微調整を必要とする。 残念ながら、試料が必要な寸法にミリングされなかったら、顕微鏡解析で得られる結果は完璧にはならない。そして操作者は試料を顕微鏡装置から外し、ミリング装置に戻し、試料からさらに物質を除かなければならない。この過程は時間を浪費し操作者の推測に頼らなければならない。しかし、操作者が十分な経験をつめば、ある試料にどれだけのミリングが必要か正確に決められる熟練者となりうる。十分な経験をつむことで、操作者は顕微鏡解析の試料を適切に作製できるであろうが、物質の除去の見積もりを誤ることで間違いを犯す可能性は残る。さらに、新米の操作者にとっては、繊細な顕微鏡解析用試料の薄片化はある程度の困難を呈する。結局、高い再現性のある結果を得るため、繰り返してたくさんの試料を薄片化することが必要になるだろう。画像処理そして解析のために作製される試料の精度、スピード、再現性を改善することが望ましい場合がある。そのように、それらには当技術分野内で変更と改善の余地がある。

WO2010085626
"[0046] Fig. 14 illustrates a microscope slide made from sectioning the skin tissue sample as shown in Fig. 13 after the cassette has been processed, embedded in paraffin, and microtome sectioned."

【図１４】カセットが、処理され、パラフィン内に包埋され、ミクロトーム薄片化された後の、図１３に示されるような皮膚組織標本を薄片化することにより生成される顕微鏡スライドを図示する。