G端子使用E方式直流耐圧試験

G端子(ガード)を使用したE方式の直流耐圧試験直流20,700V．10分間印加をやってみる。
銅線を5回程度巻いてG端子へ接続する。

グラフの赤、青ペンの記載は逆で赤=漏洩電流、青=印加電圧でした。
右側赤の大きなグラフ変動は高圧ケーブルが持っている静電容量に吸収される電流で(印加電圧を徐々に上昇させている)コンデンサに全て溜まれば変動は無くなり真の漏洩電流だけとなる。当然、正常なものは漏洩電流0近くなので0フラット推移となる。
チノー携帯ハイブリッド記録計AL5F50-ONNにてグラフ記録する。
データロガを多用して暫くペンレコを使用していなかったのでmV入力動作確認のため直流耐圧試験を実施。
取説にあったので試しにG端子、E方式をやったダケ．．．通常の直流耐圧試験では印加10分OK程度のクリアすれば良い程度の、どうでも良い試験なので、本試験はやらない。
直流耐圧試験の能書き。

絶縁抵抗には２種類あります。
貫通抵抗と沿面抵抗です。
文字通り絶縁体を貫く電流値から導くものと絶縁体表面を流れる電流値から導くものです。
一般的には貫通抵抗の方だけが取り上げられますが実際には沿面抵抗の方が絶縁抵抗測定に大きく影響します。その為、絶縁体表面の清掃や測定回路の切り離しが重要になってきます。
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