LC並列回路の「合成インピーダンス」を交流耐圧試験に見立て検証してみる。

 

①例は静電容量がリアクタンス(コイル)より少ない電流の場合。

②例は静電容量よりリアクタンス(コイル)少ない電流の場合。

通常の交流耐圧試験はC>Lの関係でリアクトルを使用する。

 

充電電流の静電容量とリアクタンス(コイル)の理想は＋90進みと-90遅れ電流だが、現実は内部損失R、他もあるので現場は異なる。結果、相殺もメーカー取説にもある様に１０%程度は出来ない→コンセント１００V電源の電流負担となる。

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①のコンデンサ静電容量は記載2．2μFで②は3．7μFである。

リアクタンス(コイル)及びコンデンサにも内部抵抗がありエクセル計算値と一致はせず、実測の誤差となる。

②のベクトルはリアクタンス(コイル)がコンデンサ静電容量電流を相殺している事が判る。

これらの検証も実際の交流耐圧試験と比較して纏めノーガキ語ると面白い様だ．．．エクセルは間違い無いと思うが。