先日HA8EPのプリアンプのBPFの周波数特性をシミュレーションしたので、今日は、実際にVNAを用いて周波数特性を測定してみました。測定してみると、平坦な周波数特性をしており、シミュレーションで得られた3dB近い谷は見当たりませんでした。2つの山と谷があるようにも見えますが、山と谷のゲインの差は僅かです。ちょっと当てが外れたというか、見当違いだったようです。なので、BPFの周波数特性を変えてみるという実験はやめにして、代わりに、ゲインを低く調整してみることにしました。
VNAで周波数特性を測定するにあたり、port-B側に20dBと6dBのアッテネータを2個直列に接続しているので、VNAのグラフで0dBは26dBに読み替えなければなりません。このプリアンプのゲインは約22dBであることがわかります。AFE822x SDR VHFx2と共に使用する場合、プリアンプのゲインが高すぎると感じられたので、ゲインが20dBになるように調整しました。このプリアンプでは、HEMT FET のVddによってゲインを調整できるようにVRがありますので、簡単に調整できました。
ゲインを少し下げたことでホワイトアウト現象が改善されるかどうか、明日以降にテストして確かめたいと思います。
