プロフィール分析とプロセス分析（WISC/WAIS）
- WISCやWAISなどの知能検査は複数の下位検査によって構成される
- これらの検査は現実場面と実験室の中間的性質を有している
- ある検査の遂行のためには、さらに複数の基下位因が寄与している
- 因子分析にもとづく指標の算出（知覚統合、言語理解など）
- 分析表に基づくプロフィール分析では、ある下位検査に対してある下位要因が寄与している という仮説を立て、その仮説が別の下位検査でも支持されること（複数の根拠を有すること）に基づき、その仮説を採択する。
- プロセス分析とは、下位検査に含まれる要因を統制する補助検査を用いる方法（すなわち、実験的方法）
- 知能検査と実験室基礎研究を統合することが、より高精度の理解と支援に繋がる
