半導体積層体

US2021359160
[0020] IR photon detectors may use very high-quality semiconductors from this process to achieve performance needed for low-noise and high-sensitivity imagery.
【００２０】
  ＩＲ光子検出器は、このプロセスからの非常に高品質の半導体を使用して、低ノイズおよび高感度結像に対して必要とされる性能を達成することができる。

This process using semiconductor stacks matched to a silicon substrate may integrate an IR detector array with the silicon electronics for conditioning and reading out the detector photocurrent. 
シリコン基板に整合される半導体積層体を使用するこのプロセスは、ＩＲ検出器アレイを、検出器光電流を調整し読み出すためのシリコンエレクトロニクスと集積することができる。

EP2449856
An exemplary semiconductor stack comprising an RSC capable of simultaneously emitting light having a spectrum that includes two peak wavelengths, similar to the spectrum shown in FIG. 3b, is set forth below in Table 2.
【００３５】
  図３ｂに示すスペクトルに類似の、２つのピーク波長を含むスペクトルを有する同時発光が可能なＲＳＣを含んだ、代表的な半導体積層体を、下記の表２に示す。

The stack includes one green- emitting (555 nm) quantum well, producing a green spectral peak, and one red-emitting (620 nm) quantum well, producing a red spectral peak.
この積層体には、緑色スペクトルピークを生成する緑色発光（５５５ｎｍ）量子井戸１つと、赤色スペクトルピークを生成する赤色発光（６２０ｎｍ）量子井戸１つが含まれる。

タイミングジッタ

US10743848
[0108] In various embodiments, the system 300 is
【００４２】
  さまざまな実施例では、システム３００は、

configured to achieve:

(1) an average power of from about 50 to about 500 mW for a pump beam at from about 600 nm to about 1000 nm with a 0.5-10 ps pulse duration a repetition rate of from about 10 MHz to about 100 MHz;
（１）約１０ＭＨｚから約１００ＭＨｚの繰り返し率で０．５から１０ｐｓのパルス幅を有する約６００ｎｍから約１０００ｎｍのポンプビームについて、約５０から約５００ｍＷの平均出力と、

(2) an average power of from about 50 mW to about 1000 mW for a tunable Stokes beam from about 900 nm to about 1100 nm; and
（２）約９００ｎｍから約１１００ｎｍの調節可能なストークスビームについて、約５０ｍＷから約１０００ｍＷの平均出力と、

(3) a timing jitter of less than or equal to about 100 fs.
（３）約１００ｆｓ以下のタイミングジッタ

が得られるよう構成されている。

The system 300 can generate images in less than or equal to about 5 seconds, in less than or equal to about 2 seconds, or in less than or equal to about 1 seconds. 
このシステム３００は、約５秒以下、約２秒以下、又は、約１秒以下で画像を生成することが可能である。多色取得の波長同調は、通常、フレームとフレームの間に行われる。

US10978429
[0074] The laser system must be able to direct a beam that can be focused and support flexible and accurate release timing synchronized with the scan head beam location.
【００４９】
  レーザーシステムは、焦点を合わせ、スキャンヘッドのビーム位置と同期した柔軟で正確なリリースタイミングをサポートできるビームを導くことができなければならない。

A Q-switch laser may suffice to perform the release function however
Ｑスイッチレーザーはリリース機能を実行するには十分であり得るが、

its relatively high pulse to pulse energy variation, timing jitter, longer pulse width and inter-pulse duration effect on pulse energy are all considerations
比較的高いパルスごとのエネルギー変動、タイミングジッタ、長いパルス幅、およびパルスエネルギーに対するパルス間持続時間の影響の全てが、

that make this common marking and cutting laser technology less suitable for BAR mass-transfer applications. 
この一般的なマーキングおよび切断レーザー技術をＢＡＲマストランスファーの用途にとって不向きにしている。

US10741990
[0189] As may be appreciated, fluctuations in optical pulse amplitude would lead to fluctuations in amplitudes of the electronic pulses before the AGC amplifier 5 - 240 .
【０１５２】
  評価され得るように、光パルス振幅の変動が、ＡＧＣ増幅器５－２４０の前の電子パルスの振幅の変動をもたらすことになる。

Without the AGC amplifier, these amplitude fluctuations would lead to timing jitter in the rising edges of pulses in the digitized pulse train from the comparator 5 - 250 .
ＡＧＣ増幅器がなければ、これらの振幅変動は、比較器５－２５０からのデジタル化パルス列内のパルスの立ち上がりエッジにタイミングジッタをもたらすことになる。

By leveling the pulse amplitudes with the AGC amplifier, pulse jitter after the comparator is reduced significantly.
ＡＧＣ増幅器によってパルス振幅をレベリングすることによって、比較器の後のパルスジッタが大きく低減される。

For example, timing jitter can be reduced to less than about 50 picoseconds with the AGC amplifier.
例えば、タイミングジッタは、ＡＧＣ増幅器によって約５０ピコ秒未満に低減することができる。

In some implementations, an output from the comparator can be provided to logic circuitry 5 - 270 which is configured to change the duty cycle of the digitized pulse train to approximately 50%.
いくつかの実施態様において、比較器からの出力は、論理回路５－２７０に与えることができ、論理回路９－３７０は、デジタル化パルス列のデューティサイクルを、約５０％に変化させるように構成されている。

US9426400
 In addition, the continuous-clocking technique (i.e. the three sensor modes described above, with the idle mode using fixed voltages in both square-wave and sinusoidal waveform operation)
加えて、連続クロッキング技法（すなわち、矩形波および正弦波形動作の両方において固定電圧を使用するアイドリングモードを有する、上記した３つのセンサモード）は、

can reduce heat generation and mitigate the negative effects of timing jitter in the control and readout electronics.
熱発生を減らすことができ、制御および読み出し電子におけるタイミングジッタの悪影響を軽減することができる。

US6625191
Thus, in order to minimize timing variations (the variations are referred to as jitter) in this preferred embodiment,
【００５１】
  従って、この好適な実施形態において、タイミング変動（この変動をジッタという）を最小限に抑えるために、

Applicants have designed pulse power components for both discharge chambers with similar components and have confirmed that the time delay versus voltage curves do in fact track each other as indicated in FIG. 4A.
出願人は、類似の構成部品を使用して両放電室のパルス電力部品を設計し、図４Ａに示すように、時間遅延：電圧の曲線の各々が実際に再現されるのを確認した。

Applicants have confirmed that over the normal operating range of charging voltage, there is a substantial change in time delay with voltage but the change with voltage is virtually the same for both circuits.
出願人は、充電電圧の通常の作動範囲にわたって、電圧によるかなりの時間遅延の変動があるが、電圧による変動が、両回路のついては実質的に同じであることを確認した。

Thus, with both charging capacitors charged in parallel charging voltages can be varied over a wide operating range without changing the relative timing of the discharges.
従って、両充電コンデンサが並列に充電される状態では、充電電圧は、充電の相対的なタイミングを変えることなく、広い作動範囲にわたって変えることができる。

補水栓

US9474790(JP)
[0002] Because electrolyte solution in a container of a vented battery reduces due to electrolysis of water and evaporation during use, the vented battery needs to be regularly checked for an electrolyte level and needs to be replenished with purified water.
【０００２】
  液式電池は、使用中の電解反応や蒸発などによって電槽内の電解液が減少するため、定期的に電解液の液面高さを確認して精製水を補充しなければならない。

For example, for use in an electric vehicle such as a forklift, an assembled battery formed by a plurality of batteries by arranging the plurality of batteries of electromotive force of 2 V, housing them in a housing box, and connecting them in series to obtain electromotive force of 48 V is used, and adding water to the respective batteries is very troublesome.
例えば、フォークリフトなどの電気車用途では、起電力が２Ｖの単電池を複数並べて収納箱に収め、直列接続して起電力を４８Ｖとした、複数の単電池からなる組電池が用いられるので、各単電池にそれぞれ補水する作業は大変手間のかかるものとなる。

Therefore, conventionally, water addition plugs attached to the respective batteries are connected by tubes to add water to the batteries at once.
そのため、従来から、各電池に装着した補水栓をチューブでつないで、一括して補水をすることが行われている。

There is a water addition plug for collective water addition, which has a function of automatically stopping the addition of the water when a prescribed electrolyte level is restored.
そして、一括補水用の補水栓には、電解液面が規定の高さまで回復すると自動的に補水を停止する機能を有しているものがある。

救済

EP2966685
[0034] Since the OTP memory cell of the present invention has two varactors, the failed memory cell may be remedied during a re-program cycle (i.e. a second program cycle).
【００３８】
  本発明のＯＴＰメモリ・セルは２つのバラクタを有することから、再プログラム・サイクル（すなわち、第２のプログラム・サイクル）の間に故障メモリ・セルを救済できる。

FIG. 7A schematically illustrates associated control signals for remedying (or re-programming) a failed memory cell according to present invention.
図７Ａは、本発明に従った故障メモリ・セルを救済（または再プログラミング）するための関連コントロール信号を略図的に図解している。

FIG. 7B schematically illustrates associated control signals for reading the remedied (or re-programmed) memory cell according to present invention.
図７Ｂは、本発明に従った救済済み（または再プログラム済み）メモリ・セルを読み出す関連コントロール信号を略図的に図解している。

EP2728753
[0030] This type of redundancy scheme can help to improve manufacturing yields.
【００３２】
  この種類の冗長スキームは、製造収率を向上させることを助け得る。

Integrated circuits 10 that would otherwise need to be scrapped can be salvaged and sold to customers.
そうでなければ、廃棄される必要がある集積回路１０は、救済され、消費者に売られ得る。

The repair process need not adversely affect device performance, so repaired devices may operate just as well as devices in which no defects were detected.
修復プロセスは、デバイス性能に必ずしも悪影響を与えず、従って、修復されたデバイスは、検出された欠陥のないデバイスとまさに同様に動作し得る。

There is usually a limited number of defects on a given integrated circuit 10, so it is generally not necessary to provide a large amount of redundant circuitry.
通常、所与の集積回路１０上に限られた数の欠陥が存在するので、大量の冗長回路網を提供する必要は概してない。

Because only a relatively small amount of redundant circuitry is provided,
比較的に少量の冗長回路網のみが提供されるので、

the increased die area and performance penalties associated with providing redundancy are typically outweighed by the considerable economic benefits that result from achieving enhanced manufacturing yields.
増大されるダイエリア、および冗長を提供することに関連付けられる性能ペナルティは、一般的に、増大された製造収率を達成することから生じる相当な経済利益により重要である。

US2022123210(JP)
[0207] Namely, in accordance with the present embodiment, because trouble that is due to dielectric breakdown can be suppressed, redundancy of circuits that remedy defective bits can be reduced,
【０１６７】
  すなわち、本実施形態によれば、絶縁破壊による故障を抑制することができるため、不良ビットを救済する回路の冗長性を低減することが可能となり、

and a programmable logic that is higher performance and whose consumed electric power is lower can be provided.
より高性能かつ低消費電力なプログラマブルロジックを提供できる。

US11398379
Alternatively, a suitable corrective action or corrective processing might include ejection of the workpiece from the platform 900 in order to not waste further time and materials on a workpiece which cannot be saved.
或いは、適切な補正アクション又は補正処理は、救済できないワークピースに対して更なる時間及び材料を無駄にしないように、プラットフォーム９００からワークピースを排出することを含んでもよい。

US10923533(JP)
[0003] Heretofore, for the purpose of enhancing the yield of the semiconductor devices, redundant relief has been carried out.
【０００２】
  従来、半導体装置の歩留まりを向上させるために冗長救済が行われている。

For example, a technology with which a redundant cell having the same configuration as that of each of basic cells within a logic area is provided for the basic cells has been proposed as such a technology (for example, refer to PTL 1).
例えば、そのような技術として、ロジック領域内の複数の基本セルに対して、それらの基本セルと同一の構成を有する冗長セルを設ける技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

[0004] In this technology, an input of a signal to the basic cell or the redundant cell is switched by an input selector.
【０００３】
  この技術では、基本セルや冗長セルへの信号の入力を入力セレクタにより切り替える

In addition, which of signals outputted from the basic cells and the redundant cell is to be outputted is switched by an output selector, thereby relieving a broken-down basic cell.
とともに、基本セルや冗長セルから出力される信号のうちのどの信号を出力するかを出力セレクタにより切り替えることで、故障した基本セルが救済されている。

That is to say, one redundant cell is connected to a plurality of basic cells arranged in an array. In the case where there is a defect in any of these basic cells, the redundant cell is used instead of the basic cell having the defect.
すなわち、アレイ状に配置された複数の基本セルに対して１つの冗長セルが接続され、それらの基本セルのうちの何れかに欠陥がある場合には、その基本セルに代えて冗長セルが使用される。