「表面状態の計測・解析技術」を開発

「表面状態の計測・解析技術」を開発


超音波の伝搬状態を利用した「表面状態の計測・解析技術」

超音波システム研究所は、
超音波振動子と発振回路による
　全く新しい、オリジナル技術として、
　超音波の伝搬状態を利用した
　「表面状態の計測・解析技術」を開発いたしました。

今回開発した技術の応用事例として、
　各種部品・材料の表面を伝搬する超音波解析により、
　表面の特徴（応力、キズ、表面処理状態など）や
　性質（均一性、材質、製造方法、構造など）
　　を検出することが可能となりました。

詳細は「超音波システム研究所」にメールでお問い合わせください

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　超音波システム研究所　
　　　http://www.green.dti.ne.jp/aabccdx/
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