べん：こんにちは、べんです。
あむ：こんにちは、あむです。
べん：今回は蛍光X線分析法（以下XRF分析）のデータ解析に
ついて話そうと思うんだ。
あむ：より正確なデータをご提供するための当社の工夫が
聞きたいわ！
べん：まず、XRF分析の特徴についてもう少し詳しく話すね。
前回簡単に説明したけど、XRF分析は対象試料にX線を
当てて分析しているんだったよね。
逆に言うと、X線が当たる範囲とその表面しか分析でき
ないんだ。
厳密には材質によってX線が透過する割合が違ってくる
から単純に表面分析ではないんだけど…。
あむ：透過し易い材質だと、どうなっちゃうのかしら？
べん：有機物は簡単にX線が透過してしまうんだけど（数百
μm～）、例えば、印字された紙の塗料の部分を測り
たくても塗料を透過しちゃうから、塗料の部分と紙の
部分を分離して測ることが出来ずに、正しい値が得ら
れないんだ。
金属はX線を透過し難いけど、それでも数μm～数十μm
は透過してしまうんだ。
あむ：それじゃ、塗膜やめっき層で覆われた素材を正確に
測定することは難しいのね。
べん：そうなんだ。
正確なデータを得るために、X線が当たる面が均質
試料（同一素材で構成されている）であることは
大前提なんだけど、XRF分析では深さ方向にも均質で
あることが求められるんだよ。
加えてX線が当たる面に凹凸がないことも重要だよ。
あむ：均質試料だけど、フィルムのように薄くてX線を透過
してしまうものは重ねて測れば良いのかしら？
べん：その通り！
プレスして重ねたり、粉体にして嵩を増したりと、
いろんな工夫でうまく測ることが出来るようになるん
だよ。
厚みを与えることで、測定のばらつきも小さくなって
精度も上がるんだ。
あむ：他に正確なデータのために注意することはあるの？
べん：XRF分析に限らず、分析には必ず“ばらつき”がつきもの
だけど、XRF分析ではその“ばらつき”をσ（シグマ、
標準偏差のこと）と言って、σの3倍（３σ）がその時
の分析結果の定量下限になるんだ。
つまり測定値は必ず3σ以上でないと、その値は結果と
して信頼できないってことにもなるんだ。
だから、装置からの分析結果に必ずσ値が付いているんだ。
あむ：うーん、よくわからないわ！
べん：言葉で説明すると難しくなってしまうね。
例えば、ある試料の鉛の測定結果が100ppmだったとするね。
その時のσ値が30ppmだと…。
あむ：3σは90ppmね。
測定値100ppm＞90ppmだから測定値は大丈夫ということ？
べん：そうそう。
でもここで注意して欲しいのが3σは測定値の“ばらつき”
ということだから、測定結果は本当は100ppm±90ppmになる
んだ。
あむ：本当の結果は10から190ppmの間ってこと？
随分大きなばらつきね！
べん：そうなると、より正確なデータのためにはσ値が小さく
なるほど誤差が小さくなるということになるよね？
σを小さくするには、測定時間を長くしたり、試料の厚み
を十分取ったりするなどの工夫が必要なんだ。
あむ：正確なデータのためには他にどんなことに気を付ければ
良いの？
べん：他の機器分析にも共通することだけど、共存物質の影響を
見極めることが大切だと思うよ。
共存物質の影響によって、本来含有していない元素が含有
されているような結果が出てしまうこともあるんだ。
どの元素がどういった共存物質に影響されるかの解析は
ノウハウに近いところもあるみたいだよ。
あむ：簡単に測れる装置だと思っていたけど、経験も必要なのね。
私ももっと勉強します！
