べん：こんにちは、べんです。
あむ：こんにちは、あむです。
べん：このブログでも何度か紹介している製品分析だけど、どの分析
も前処理が大変そうだったよね？
（過去記事「RoHS指令の金属分析について」をご参照下さい。）
あむ：分析者のノウハウが活きる部分だと思うけど、物によっては
分解や抽出にとても時間が掛かってしまうみたいだったね。
べん：それが、面倒で時間のかかる前処理をしなくても製品中の有害
物質の値がわかる分析装置があるんだよ。
蛍光X線分析法(以下XRF)という分析方法なんだ。
あむ：それは便利な装置ね！たしか当社にもあったよね（写真参照）。
前処理が要らないということだけど、どうやって分析しているの？
べん：まず簡単にXRFの基本的な原理を話すね。
サンプルに入っている分析対象の元素にXRF装置から出てくる
X線を当てるとその対象元素固有のX線が出てくるんだけど、
その強さを測ることでおおよその含有量がわかるんだ。
時間はサンプルによるけど、大体数分から数10分程度で測れる
んだ。
あむ：前処理だけで1日以上かかってしまう精密分析に比べると格段に
早いのね。
X線を当てるだけでわかってしまうの？
べん：そうなんだ。
それに時間が掛からない分、コストも精密分析に比べると低い
んだよ。
でも、デメリットもあるよ。
前処理を行う精密分析に比べると、どうしても精度では劣って
しまうんだ。
だから、あくまで高含有かどうかのふるい分け（=スクリーニング）
に用いられるんだ。
例えば、同じサンプルでICP分析でカドミウムを測定した場合
には5ppmまで測ることが出来てもXRFだと50ppmまでしか測定でき
ない（=定量下限が高い）んだ。
あむ：それでも、サンプルを酸に溶かしたり、溶媒に漬けたりすること
で、元のサンプルがなくなってしまっていたけど（=有姿を保て
ない）、X線を当てるだけのXRFならそんなこともなさそうね！
べん：そういう分析を非破壊分析と言うそうだよ。
有姿を保てるから、1度XRF分析を行ってみてその結果が高含有
だったり、閾値（=基準値）付近だった場合には、そのサンプル
をそのまま用いて、次のステップとして精密分析を行うことが
できるんだ。
あむ：精密分析とXRFスクリーニングをうまく使い分けることが合理的
に測定する１つのポイントなのね。
べん：スクリーニングといっても、正確なデータを出せないと精密分析
に回す数が増えてしまってコストが掛かってしまったり、納品先
で精密分析をした際に問題が生じてしまう恐れもあるよね。
扱いが簡単な装置だけど、サンプルによってはデータの解析が
難しい場合も多く、前処理とはまた違った意味でのノウハウも
求められるんだ。
あむ：その点当社では今までも様々な種類のサンプルのご依頼を頂いて
いるので、経験は豊富なのかしら？
べん：そうだね。
それじゃ次回はそのあたりのXRF分析のデータ解析について詳しく
