ついに最終回！ 「国際標準に挑む日本発電子認証」第3回

こんにちは。

週末は大学の友人の結婚式があり、
軽井沢にいってきました。

あいにくの天気で、雨が降っていました。
気温は低く、長袖でちょうどよいくらいでした。

そして不慣れなドライバーの私を悩ませたのは霧！
濃霧のため、視界が狭く、楽しいはずのドライブが
ひやひやしたものになってしまいました…。
今度行く時があれば天候に恵まれたいものです…。

さて、今週のアップは伊賀洋一氏の寄稿
「国際標準に挑む日本発電子認証」最終回です。
欧米の打ち出す標準規格にどのように日本発の
標準規格に対抗していくのか…？
最終回をぜひご覧ください！


―HH News & Reports―
【寄稿】
伊賀洋一　ISOTC247国内審議委員会委員長　
国際標準に挑む日本発電子認証　
第3回日本発電子認証・標準規格の方向性

日本の半導体業界が推し進める製品IDを用いた国際標準化。
しかしヨーロッパや米国・オバマ政権からも国際標準化の流れが――。
深刻化する部品模造品の現状に迫りつつ、
日本はどのような対策をしていく必要があるのか、
SEMITRC委員会委員長の伊賀洋一氏に解説していただく寄稿。
最終回である第3回は日本発電子認証・標準規格の方向性についてです。

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（山下雄太郎）