糖鎖断片化パターン解析装置および糖鎖断片化パターン解析方法

出願番号 : 特許出願２００４−２４０８４５ 出願日 : ２００４年８月２０日
公開番号 : 特許公開２００６−５８１５１ 公開日 : ２００６年３月２日
出願人 : 独立行政法人産業技術総合研究所 発明者 : 福井 一彦 外４名

【課題】イオン化された糖鎖の断片化パターンを解析するための糖鎖断片化パターン解析装置を提供する。
【解決手段】糖鎖断片化パターン解析装置１０は、イオン化された糖鎖の最適化構造を計算する最適化構造計算部２２と、最適化構造計算部２２による計算結果から、糖鎖内の切断箇所の候補となる複数の候補結合のそれぞれについて、結合強度に関連する複数種類の結合特性パラメータを抽出する結合特性パラメータ抽出部２８と、結合特性パラメータ抽出部２８にて抽出された複数種類の結合特性パラメータのそれぞれを結合特性スコアへと変換するパラメータ変換部３４と、複数種類の結合特性スコアのそれぞれの結合強度に対する寄与を表す重み情報を記憶する重み情報記憶部３８と、各候補結合における複数種類の結合特性スコアの総合スコアを、重み情報によって複数種類の結合特性パラメータが重み付けされるように求める総合スコア計算部３６とを備える。明細書pdf >> かんたん特許検索